在生产过程中如何选择膜厚仪,膜厚仪性能特点

膜厚仪,顾名思义,是测薄膜厚度的仪器.
膜厚仪采用了磁性测厚法：是一种超小型测量仪,它能快速,无损伤,精确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的测量.可广泛用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.特别适用于工程现场测量.
膜厚仪采用二次荧光法：它的试验方法是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的试验方法就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
在生产过程中如何选择膜厚仪呢?
首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层,铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了.如：铜箔测厚仪,涂层测厚仪.
如果测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那么就要使用x-射线膜厚仪.单镀层厚度大于0.5um的还可以采用金相法观察.

膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”，本文就介绍一下膜厚仪在不同环境下影响因素的有关说明：
1、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
3、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
4、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
7、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
8、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
9、附着物质
本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。
10、测量头压力
测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
11、测量头的取向
测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。
其实任何一种设备仪器都会有影响误差，尤其对于比较精密的仪器，所有不当的操作都有可能给它带来很大的影响，提高专业素养是避免不当操作的关键。